內容簡介

本書包括了電子元器件可靠性試驗的各主要類別：環境試驗（包括13類環境和綜合環境試驗）；壽命試驗和加速壽命試驗；鑒定試驗；極限應力試驗；可靠性篩選試驗；可靠性增長試驗。
　　各試驗類別包括了原理、理論模型、試驗設計、實施程序、設備要求、關鍵技術及試驗示例等并介紹了相關的可靠性基礎知識和數理統計方法，提供了元器件失效分析和破壞性物理分析方法、程序及其關鍵性技術，使用狀態中元器件失效預測技術。
本書可作為高校教師、研究生、本科生及從事可靠性研究的工程技術人員工作的參考書。

作者簡介

目錄

第1章 概論
1.1 可靠性術語和參數
1.2 電子元器件的可靠性表征
1.3 可靠性試驗的目的和分類
1.4 可靠性試驗技術的發展
參考文獻
第2章 可靠性數學及應用
2.1 壽命分布
2.2 抽樣檢驗
2.3 試驗數據的處理方法
參考文獻
第3章 壽命試驗
3.1 壽命與應力的關系
3.2 指數分布壽命試驗
3.3 加速壽命試驗
3.4 壽命試驗中的一些技術問題
參考文獻
第4章 環境試驗
4.1 概述
4.2 氣侯環境試驗
4.3 機械環境試驗
4.4 水浸漬試驗
4.5 低氣壓試驗
4.6 太陽輻射試驗
4.7 電離輻射試驗
4.8 鹽霧腐蝕試驗
4.9 霉菌試驗
4.10 沙塵試驗
4.11 地震試驗
4.12 聲震試驗
4.13 運輸試驗
4.14 天然環境試驗
4.15 綜合環境試驗
參考文獻
第5章 極限應力試驗
5.1 極限應力試驗的概念
5.2 進行極限應力試驗的目的和作用
5.3 極限應力試驗的電參數測試
5.4 極限應力試驗的程序
5.5 極限應力試驗方法
5.6 案例
參考文獻
第6章 電子元器件鑒定試驗
……
第7章 可靠性篩選試驗
第8章 可靠性增長試驗
第9章 元器件失效分析和失效機理
第10章 破壞性物理分析（DPA）
第11章 使用狀態中元器件失效預測技術
第12章 試驗數據信息智能化管理系統（LIMS）